应我校物理与电子工程学院邀请，上海电力学院刘勇副教授来校做“基于光学相干层析的缺陷检测技术”学术报告。具体事宜如下：
报告题目：基于光学相干层析的缺陷检测技术
报 告 人：刘勇副教授
报告时间：2017.05.18下午16:00-16:40
报告地点：科学校区四教楼405会议室
欢迎广大师生参加！
科技处
物理与电子工程学院
2017年05月15日
附：刘勇副教授个人简介：
刘勇，中国光学学会高级会员，中国光学工程学会会员。浙江大学光电信息工程系博士后，曾先后赴台湾阳明大学、University of South Carolina访问研究，长期从事光学相干层析成像和光电检测技术的研究工作，目前已在J.Opt，Opt.Commun等国内外重要学术期刊发表学术论文20余篇，授权专利2项，主持参与过国家重大基础研究发展计划、国家自然科学基金项目和上海市自然科学基金等多个项目。